Сравним дифракцию от световых волн и от микрочастиц : 1) для световых волн в результате наложения происходит усиление или ослабление амплитуды колебания ,т.е. интенсивность диф. Картины пропорционально квадрату амплитуды световой волны. 2) для микрочастиц интенсивность определяется числом фотонов попадающих в данную точку диф. Картины => число фотонов в данной точке задается квадратом амплитуды световой волны , в то время как для одного фотона квадрат амплитуды определяет вероятность попадания фотона в ту или иную точку. Физик М. Борн предложил что по волновому закону меняется не сам вероятность а величина названная амплитудой вероятности 
-волновая функция амплитуда вероятности может быть комплексной и вероятность W пропорционально квадрату ее модуля 
таким образом описание состояния микрообъекта с помощью волновой функции имеет статистический ,вероятностный характер : квадрат модуля волной функции 
(квадрат модуля амплитуды волн де Бройля ) определяет вероятность нахождения частиц в момент времени t в области с координатами x и x+dx ,у и у+dу, z и z+dz -волновая функция является основным носителем информации об корпускулярных и волновых свойствах микрочастиц. Вероятность найти частицу в конечном объеме V в момент времени t
если за V принять бесконечный объем всего пространства => условие нормировки вероятностей 
это говорит об объективном существовании частицы во времени и пространстве
Поможем написать любую работу на аналогичную тему